方塊電阻測試儀

簡要描述：方塊電阻測試儀方阻檢測儀型號：TD-XX-2

是TD-XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似的標準和美國 A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的新型儀器。
可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜）……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

產(chǎn)品型號：TD-XX-2
廠商性質(zhì)：其他
更新時間：2025-08-29
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方塊電阻測試儀 方阻檢測儀型號：TD-XX-2

是T 中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似的標準和美國 A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的新型儀器。
可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜）……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
00—199.99（Ω/□）；擴展量程：方塊電阻 10.0—1999.9（Ω/□）；
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰。
* 采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；
* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
* 帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好指示（LED）；
* 單電源開關(guān)，推拉式探頭-主機接插件，操作其簡便

方塊電阻測試儀 方阻檢測儀

，是TD-XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似的標準和美國 A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的新型儀器。
可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜）……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
技術(shù)特點：
* 測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00—199.99（Ω/□）；擴展量程：方塊電阻 10.0—1999.9（Ω/□）；
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰。
* 采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；
* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
* 帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好指示（LED）；
* 單電源開關(guān)，推拉式探頭-主機接插件，操作其簡便

產(chǎn)品名稱：噪聲頻譜分析儀
產(chǎn)品型號：HS6298B

噪聲頻譜分析儀型號：HS6298B

產(chǎn)品介紹：

一概述
HS6298B型噪聲頻譜分析儀是一種袖珍式智能化噪聲測量儀器，它集精密聲級計及頻譜分析儀于一體，性能符合IEC61672-2002 2級的要求，同時也符合IEC1260和GB/T3241對倍頻程濾波器濾波器的要求，于各種工業(yè)環(huán)境噪聲測量尤其于對噪聲進行頻譜分析。
二 HS6298B型噪聲頻譜分析儀主要功能和特點
1 具有內(nèi)置1/1倍頻程濾波器。
2 采用數(shù)字檢波技術(shù)替代以往一些傳統(tǒng)的聲級計，穩(wěn)定性和可靠性大大提高。
3 采用LCD顯示，顯示清晰直觀。
4 通過RS-232接口與計算機連接，可輸出每秒鐘瞬時聲級。
5 可儲存12組頻譜數(shù)據(jù)和800組等效連續(xù)聲級。
6 可用微型打印機進行現(xiàn)場打印或事后通過計算機打印。
三 HS6298B型噪聲頻譜分析儀主要技術(shù)性能
1 傳聲器：Ф12.7mm（1/2″）測試電容傳聲器
2 頻率范圍：20Hz~10kHz
3 頻率計權(quán)：A計權(quán)、C計權(quán)、Lin(線性)
4 測量范圍：30dB~130dB
5量程控制：手動，分三檔，線性范圍 > 60dB。
6量程范圍： 30dB ~ 90dB     50dB ~ 110dB         70dB ~ 130dB
7 儀器精度：符合IEC61672或GB3785 2型
8 時間計權(quán)：快（F）、慢（S）
9 測量時間設定：10s、1min、5min、10min、20min、1h、8h、24h。
10 自動測量功能：Lp、Leq、LAE、LN、L5、L10、L50、L90、L95、SD、Lmax、Lmin、Ld、Ln、Ldn Tm、等。
11 測量數(shù)據(jù)自動存儲、自動打印。打印為選配
12濾波器：  內(nèi)置1/1倍頻程濾波器。31.5Hz、63 Hz、125 Hz、250 Hz、500 Hz、1kHz、2kHz、4kHz、8kHz、16kHz
13 顯示：大屏幕動態(tài)液晶顯示，瞬時聲級，具有模擬電表顯示。
14 輸出接流輸出、RS-232接口
15 校準：使用1型聲級校準器或活塞發(fā)聲器。
16 電源：內(nèi)部用LR6（5#）堿性電池，可連續(xù)工作24小時。
外接電源6V100mA。
17 外形尺寸：l×b×h(mm):230×72×30
18 質(zhì)量：300g（連電池）
19 使用條件：-10℃~50℃