應力集中檢測儀

     應力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀 TC-TSC-2M-8 

、記錄和處理設備與結構的應力形變狀況的診斷數據的系統。
　　 能用于按專門的檢測方法來評估設備的應力變形狀況，并測定應力集中區。此儀器的工作原理在于測量被檢測對象表面磁場Hp的分布。磁場強度使用A/m （安培/米）為單位，長度計數器換算出長度值，以mm為單位。

    
　　該系列儀器從方法上確立了磁場Hp分布同殘余應力之間的關系。本儀器連同開發出來的于不同工業部門的檢測方法，對在運行中設備的診斷領域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是，找出結構的薄弱部位，其形式是金屬的磁記憶。檢測方法符合聯邦采礦技術監督局的規定。本儀器已被推薦進入聯邦標準

功能外，同時擁有以下更*結構和功能特點：

　　多達8個測量通道；
　　使用配備新型雙分量傳感器，多個鐵磁探測式轉換器放置成雙分量，用來同時檢測磁場的法向分量（Нру）和切向分量（Нрх）；

    應力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀
　　數字電路、16位微處理器、1M內存；
　　32MB存儲空間，用于寫入10-15天期間檢測結果而無須將信息轉入電腦；
　　分辨率為320X240點陣的大屏幕液晶顯示；
　　操作簡化，使用14鍵鍵盤；
　　軟件直接在儀器上自動處理結果；
　　探頭可以測量場強值和移動長度值，速度Z大可達0.5米/秒；
　　不要求對被檢測對象進行專門的磁化，因為它利用了它們運行中形成的殘余磁性；
　　不要求對被檢測表面作任何準備；
　　在檢測過程中能確定事先不知道的金屬的應力集中和缺陷的部位；
　　儀器能把數據記錄到存儲器，并可把數據轉錄入計算機中；
　　配套提供分析軟件MM-System，可在計算機上對數據作深入的處理。

技術參數：

產品名稱：數字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀 產品型號：M-2

數字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀型號：M-2

一·概述 
M-2型數字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量。 

儀器由主機，測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果用數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準確，游移率較小，壽命長。 

儀器于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合. 

本儀器工作條件為： 
溫度：  
相對濕度： 60% ~ 70% 
工作室內應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源 

二· 技術參數 
1. 測量范圍： 

電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可測半導體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長（或高）度：≤400mm 


3. 測量方位： 
軸向，徑向均可 

4. 數字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
Z大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數字顯示，小數點自動顯示 

5. 數控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進可調，系統自動調整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探針測試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源：  
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機： 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高)

產品名稱：可塑性試驗機  產品型號：KSD-49

可塑性試驗機 型號：KSD-49

用途：于測定生膠、素煉膠、混合膠的可塑性。 
主要技術參數： 
兩平行板間試樣承受力：49±0.05N 
控制溫度：70±1℃ 
百分表測程：0-30mm，精度0.01mm 
電熱功率：220V±10%、700W、50Hz